TEG系列面板激光探针台主要是对液晶屏的TEG电路进行分析，测试电学参数，实现全自动的一款自动测试应用设备；该产品能快速精准的对产品的性能作出分析判断，进一步对产品进行缺陷修复，大大的提高企业生产的良品率和经济效益。

A12是一款12寸（兼容8寸）的高性能晶圆测试探针台， 设备可与不同类型的ATE测试机组合并用，通过使探针卡与晶圆PAD点之间精准接触，实现完成晶圆WAT/CP测试，该设备操作简单并具有良好的机械稳定性，能为客户提供一个低成本且高产量的晶圆测试解决方案，满足（晶圆厂、封测厂、测试厂）等不同客户的测试需求。

X系列是一款专业应对各类先进芯片性能测试 的综合型高效半自动晶圆探针台，集成了电学、光波、微波等多种功能，出色的测试精度、运行 效率与系统稳定性，可匹配多种测试应用环境，能为各类晶圆和器件提供出色的可靠性测试。

CG系列探针台可提供在超高真空与高低温转换的环境下， 实现对器件及材料表征的IV/CV特性测试、射频测试、光电 测试、电磁输运特性及霍尔效应等测试。 通过设置真空腔、防辐射屏等结构，能够有效的营造一个集 成高温、低温、真空等测试环境，能够为生产出来的半导体器件提供稳定的测试环境。

C系列探针台通过增加屏蔽腔体的结构可实现无电磁干扰 (EMI) /射频干扰 (RFI)和不透光的测量环境，可在非真空条件下实现高低温测试需求。

“FA系列探针台是专为失效分析实验室设计的一款量测设备，具光学特性、激光特性，设备结构稳定，系统性能优异， 支持多功能升级，产品功能丰富齐全。 ”

“SEMISHARE研发的卡盘移动技术，可满足您对整片晶圆高效测试的需求，H系列探针台非常适合研发类实验室的 一次性预算购置。”

“E系列是一款功能进阶级探针台，能实现1μm以上的电极Pad测试，可通过较低的成本升级更多的测试功能。”

“如果您的测试PAD大于30μm，M系列则是您在实验室中的首选设备之一”