成都方昇科技有限公司

蔡司Crossbeam系列

发布时间:2019-12-13 01:34

专为高通量样品制备和3D分析而设计的FIB-SEM

轻松发现和设计先进材料

  • 使用Gemini电子光学系统,您可以从高分辨率SEM图像中提取真实样本信息
  • 使用新的Ion-sculptor FIB镜筒以及全新的样品处理方式,您可以大限度地提高样品质量、降低样品损伤,同时大大加快实验操作过程
  • 使用Ion-sculptor FIB的低电压功能,您可以制备超薄的TEM样品,同时将非晶化损伤降到非常低
  • 使用Crossbeam 350的可变气压功能
  • 或使用Crossbeam 550实现更苛刻的表征,大仓室甚至为您提供更多选择

扫一扫在手机上阅读本文章

版权所有© 成都方昇科技有限公司    技术支持: 模自由