概述

　　在传统微波测试系统硬件基础上，通过集成射频探针台，并对其进行严格的准确的步进控制，以实现对芯片的在片测试。

系统功能及特点

• 集成探针台控制，实现精确的XYZ位移；
• 图形化测试结果实时显示，直观定位缺陷品位置，如下所示
• 注：图中灰色为边缘不完整产品，跳过测试；红色为不合格产品，绿色为合格产品；白色为待测产品。
•  支持人工点击图形，探针台迅速定位功能，便于校准或重测